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成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫(xiě)等。

碳納米管粉體電阻率檢測(cè)

發(fā)布時(shí)間:2025-05-27

關(guān)鍵詞:碳納米管粉體電阻率檢測(cè)機(jī)構(gòu),碳納米管粉體電阻率檢測(cè)周期,碳納米管粉體電阻率檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所

文章簡(jiǎn)介:

檢測(cè)項(xiàng)目體積電阻率、表面電阻率、導(dǎo)電性能、載流子濃度、霍爾系數(shù)、塞貝克系數(shù)、熱導(dǎo)率、比表面積、孔徑分布、Zeta電位、元素組成、金屬雜質(zhì)含量、晶體結(jié)構(gòu)完整性、缺陷密度、團(tuán)聚指數(shù)、分散均勻性、氧含量測(cè)定、灰分含量、振實(shí)密度、松裝密度、粒徑分布(D10/D50/D90)、長(zhǎng)徑比統(tǒng)計(jì)、取向度分析、熱穩(wěn)定性(TGA)、化學(xué)官能團(tuán)(FTIR)、拉曼光譜特征峰(G/D峰比值)、XRD衍射峰半高寬、電磁屏蔽效能(SE)、介電常數(shù)(ε)、介質(zhì)損耗角正切(tanδ)檢測(cè)范圍單壁碳納米管粉體、多壁碳納米管粉體、功能化修飾碳納
點(diǎn)擊咨詢

因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

體積電阻率、表面電阻率、導(dǎo)電性能、載流子濃度、霍爾系數(shù)、塞貝克系數(shù)、熱導(dǎo)率、比表面積、孔徑分布、Zeta電位、元素組成、金屬雜質(zhì)含量、晶體結(jié)構(gòu)完整性、缺陷密度、團(tuán)聚指數(shù)、分散均勻性、氧含量測(cè)定、灰分含量、振實(shí)密度、松裝密度、粒徑分布(D10/D50/D90)、長(zhǎng)徑比統(tǒng)計(jì)、取向度分析、熱穩(wěn)定性(TGA)、化學(xué)官能團(tuán)(FTIR)、拉曼光譜特征峰(G/D峰比值)、XRD衍射峰半高寬、電磁屏蔽效能(SE)、介電常數(shù)(ε)、介質(zhì)損耗角正切(tanδ)

檢測(cè)范圍

單壁碳納米管粉體、多壁碳納米管粉體、功能化修飾碳納米管(羧基化/氨基化)、摻雜型碳納米管(氮摻雜/硼摻雜)、碳納米管導(dǎo)電漿料、碳納米管/石墨烯復(fù)合粉體、碳納米管/金屬氧化物復(fù)合材料、鋰離子電池電極材料(正極/負(fù)極)、超級(jí)電容器電極材料、導(dǎo)熱硅脂復(fù)合材料、抗靜電塑料母粒、電磁屏蔽涂料基材、柔性透明導(dǎo)電薄膜原料、傳感器敏感材料、場(chǎng)發(fā)射陰極材料、結(jié)構(gòu)增強(qiáng)型環(huán)氧樹(shù)脂預(yù)浸料、碳纖維增強(qiáng)復(fù)合材料界面劑、導(dǎo)電油墨添加劑、燃料電池催化劑載體材料、相變儲(chǔ)熱復(fù)合材料基體材料3D打印導(dǎo)電耗材原料

檢測(cè)方法

四探針?lè)ǎ和ㄟ^(guò)四根等間距探針接觸樣品表面測(cè)量電壓-電流關(guān)系計(jì)算體積電阻率范德堡法:采用對(duì)稱電極配置消除接觸電阻影響交流阻抗譜(EIS):分析不同頻率下的阻抗特性獲取載流子遷移信息掃描電子顯微鏡(SEM):觀測(cè)表面形貌及分散狀態(tài)透射電子顯微鏡(TEM):表征管徑尺寸與層狀結(jié)構(gòu)激光粒度分析儀:測(cè)定團(tuán)聚體粒徑分布BET氮?dú)馕椒ǎ河?jì)算比表面積及孔徑分布X射線光電子能譜(XPS):定量分析表面元素組成電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS):測(cè)定金屬雜質(zhì)含量熱重分析儀(TGA):評(píng)估熱穩(wěn)定性及灰分含量

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T24521-2023炭黑電阻率測(cè)定方法ISO1853:2018導(dǎo)電橡膠體積電阻率測(cè)試規(guī)程ASTMD257-14絕緣材料直流電阻測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEC62631-3-1:2016納米材料電性能測(cè)試指南JISK7194:2017塑料導(dǎo)電性四探針測(cè)試法GB/T35113-2017石墨烯材料電導(dǎo)率測(cè)試規(guī)范ISO80004-13:2017納米技術(shù)術(shù)語(yǔ)-碳基材料篇ASTMF76-08(2020)半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)GB/T33323-2016粉體材料振實(shí)密度測(cè)定法DINEN61340-5-1:2016靜電防護(hù)材料電阻測(cè)試

檢測(cè)儀器

四探針電阻測(cè)試儀:配備高溫真空腔體實(shí)現(xiàn)環(huán)境可控測(cè)量霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng):可同步獲取載流子濃度與遷移率參數(shù)激光閃射法導(dǎo)熱儀:精確測(cè)量軸向/徑向熱導(dǎo)率差異全自動(dòng)比表面及孔隙度分析儀:完成BET比表面積與孔徑分布聯(lián)測(cè)場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM):實(shí)現(xiàn)5nm級(jí)微觀形貌表征X射線衍射儀(XRD):分析晶體結(jié)構(gòu)缺陷與石墨化程度同步熱分析儀(TGA-DSC):同步監(jiān)測(cè)熱失重與相變過(guò)程動(dòng)態(tài)光散射粒度儀(DLS):在線監(jiān)測(cè)分散體系穩(wěn)定性傅里葉變換紅外光譜儀(FTIR):識(shí)別表面官能團(tuán)類型原子力顯微鏡(AFM):三維形貌重構(gòu)與局部電導(dǎo)率映射

檢測(cè)流程

1、咨詢:提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))

5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫(xiě)報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件

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